La difracció dels raigs X constitueix una eina de treball molt important en la física de l’estat sòlid, puix que és un mètode ràpid en la determinació de l’estructura atòmica de la matèria. Els mètodes de difracció de raigs X són basats en el fet que les seves longituds d’ona són de l’ordre d’1 Å, i aquest és l’ordre de les dimensions atòmiques. Quan el feix de raigs X incideix sobre la mostra es produeix una dispersió d’aquesta radiació per tots els àtoms. Les ones dispersades es propaguen esfèricament a partir dels àtoms de la substància, i els efectes d’interferència entre les distintes radiacions dispersades fan que les intensitats d’aquestes presentin màxims i mínims segons les direccions. Algunes de les seves aplicacions són el diferenciament entre substàncies amorfes i cristal·lines, la determinació de l’estructura de matèries cristal·lines i la de l’orientació de monocristalls i la mesura d’imperfeccions de cristalls.
f
Química