Consisteix en una palanca microscòpica amb una punta afilada a l’extrem, la qual es pot desplaçar per sobre de la superfície que es vol estudiar. Quan la distància entre la punta i la superfície varia (per la seva rugositat), la força entre elles també varia, cosa que dóna lloc a una flexió de la palanca, que pot ser mesurada, i en resulta un mapa topogràfic de la superfície. A diferència del microscopi d’escaneig per efecte túnel, la punta no és conductora i no es mesura el corrent entre punta i superfície, fet que permet estudiar materials que no són conductors ni semiconductors.
m
Física