Resultats de la cerca
Es mostren 2 resultats
microscopi de forces atòmiques
Física
Microscopi amb una resolució inferior al nanòmetre, inventat per G.Binnig, C.Quate i C.Gerber el 1986, com a millora del microscopi d’efecte túnel (STM).
Consisteix en una palanca microscòpica amb una punta afilada a l’extrem, la qual es pot desplaçar per sobre de la superfície que es vol estudiar Quan la distància entre la punta i la superfície varia per la seva rugositat, la força entre elles també varia, cosa que dóna lloc a una flexió de la palanca, que pot ser mesurada, i en resulta un mapa topogràfic de la superfície A diferència del microscopi d’escaneig per efecte túnel, la punta no és conductora i no es mesura el corrent entre punta i superfície, fet que permet estudiar materials que no són conductors ni semiconductors
espectre elèctric
Física
Figura que visualitza les línies de camp d’un camp elèctric i que és obtinguda en espargir partícules d’una substància conductora sobre una superfície no conductora situada en el si del camp elèctric.