Resultats de la cerca
Es mostren 6 resultats
escaneig per línies
Electrònica i informàtica
Escaneig en què l’exploració avança línia a línia en la direcció seguida per la plataforma, captant consecutivament cada línia completa de la dallada mitjançant sensors d’escaneig per línies.
sensor d’escaneig transversal
Electrònica i informàtica
Sensor constituït per miralls rotatoris que reflecteixen la radiació del terreny a un únic detector o a un petit grup de detectors.
sensor d’escaneig per línies
Electrònica i informàtica
Sensor constituït per diversos detectors alineats perpendicularment respecte a la direcció seguida per la plataforma.
identificació de radiofreqüència
Sistema d’emmagatzematge i recuperació d’informació de manera remota, fent servir etiquetes, a les quals s’accedeix mitjançant ones de ràdio.
Es fa servir per a etiquetar productes en els comerços, maletes als aeroports o mercaderies als magatzems Així, l’escaneig remot d’un magatzem on els productes porten una etiqueta RFID permet saber quins productes hi ha emmagatzemats
microscopi de forces atòmiques
Física
Microscopi amb una resolució inferior al nanòmetre, inventat per G.Binnig, C.Quate i C.Gerber el 1986, com a millora del microscopi d’efecte túnel (STM).
Consisteix en una palanca microscòpica amb una punta afilada a l’extrem, la qual es pot desplaçar per sobre de la superfície que es vol estudiar Quan la distància entre la punta i la superfície varia per la seva rugositat, la força entre elles també varia, cosa que dóna lloc a una flexió de la palanca, que pot ser mesurada, i en resulta un mapa topogràfic de la superfície A diferència del microscopi d’escaneig per efecte túnel, la punta no és conductora i no es mesura el corrent entre punta i superfície, fet que permet estudiar materials que no són conductors ni semiconductors