Resultats de la cerca
Es mostren 2 resultats
cambra de deriva

Principis de la deriva: la detecció de la partícula carregada que, procedent del feix incident, travessa la cambra, és possible gràcies a la mesura del temps de migració t , cap a l’ànode detector, els electrons d’ionització, de velocitat constant v , produïts al pas de la partícula
© fototeca.cat
Física
Detector de partícules derivat de la cambra proporcional multifil
.
Consisteix en dues distribucions planes de fils conductors parallels, mantinguts a un potencial elèctric que creix linealment cap a un costat amb un gradient d’uns 500 a 1 000 V/cm, on és situat un ànode detector A conseqüència de la uniformitat del camp elèctric, els electrons, alliberats en la ionització del gas de la cambra originada pel pas d’una partícula carregada, migren cap a l’ànode detector amb una velocitat constant v ≃5 cm/ μs la mesura del temps t que triguen a arribar-hi permet de determinar la distància d a la qual s’ha produït la ionització la traça del pas a la partícula és…
microscopi electrònic

Esquema del funcionament s’un micrroscopi electrònic de transmissió (a dalt) i d’escombratge (a baix)
© Fototeca.cat
Física
Nom genèric d’una àmplia classe de microscopis que visualitzen un objecte de petites dimensions en fer-lo interaccionar amb electrons.
La utilitat del microscopi electrònic prové del seu gran poder de resolució, que té origen en el fet que la longitud d’ona associada a un electró pot fer-se molt menor que la de les radiacions electromagnètiques emprades en els microscopis òptics així, per exemple, el poder de resolució d’un microscopi que empra electrons d’uns 100 KeV és d’uns 0,3 nm i el d’un que n'empra de 1 000 KeV és d’uns 0,15 nm Per la seva invenció 1932, ERuska compartí el premi Nobel de física del 1986 amb GBinnig i HRohrer Hom distingeix diferents tipus de microscopis electrònics El més estès és el microscopi…