Resultats de la cerca

Foren descoberts per Johan W Hittorf l’any 1869 i estudiats el 1897 per Sir William Crookes, que observà que eren desviats pels camps magnètics o elèctrics, i posteriorment per Joseph John Thomson, que, el 1879, mesurà aquestes desviacions i demostrà que eren formats per partícules de càrrega negativa que identificà com a electrons El 1898 Lenard descobrí que poden penetrar en certes substàncies alumini, or, etc Els raigs catòdics tenen actualment diverses aplicacions, com els tubs de raigs X on, en incidir sobre l’anticàtode, provoquen l’emissió de raigs X, el microscopi…

Els raigs de llum que, procedents d’un objecte, travessen la lent són desviats de llur trajectòria original refracció i donen lloc a una imatge les característiques de la qual depenen del tipus de lent i de la posició relativa de l’objecte i la lent El sistema òptic de la lent Atenent a la forma de llurs superfícies, hom classifica les lents en biconvexes , planoconvexes , concavoconvexes , planocòncaves i bicòncaves atenent a la manera de desviar els raigs de llum, hom les classifica en convergents , que són les de focus imatge real i, normalment, més gruixudes del centre que de la…

La utilitat del microscopi electrònic prové del seu gran poder de resolució, que té origen en el fet que la longitud d’ona associada a un electró pot fer-se molt menor que la de les radiacions electromagnètiques emprades en els microscopis òptics així, per exemple, el poder de resolució d’un microscopi que empra electrons d’uns 100 KeV és d’uns 0,3 nm i el d’un que n'empra de 1 000 KeV és d’uns 0,15 nm Per la seva invenció 1932, ERuska compartí el premi Nobel de física del 1986 amb GBinnig i HRohrer Hom distingeix diferents tipus de microscopis electrònics El més estès és el microscopi…